140 | |
Sujeto a cambio de parámetros técnicos.
Contour measuring station, with 140 mm measuring path. Resolution: max. 6 nm (with 210 mm probe arm), PC + software in price.
Año de fabricación: | 0 |
500 | |
700 | |
400 | |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2006 |
5500 | |
2000 | |
2500 | |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2018 |
900 | |
1000 | |
600 | |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2007 |
1000 | |
650 | |
400 | |
Sistema de control | No |
Año de fabricación: | 2021 |
1200 | |
2400 | |
800 | |
Sistema de control | No |