| 140 | |
Sujeto a cambio de parámetros técnicos.
Contour measuring station, with 140 mm measuring path. Resolution: max. 6 nm (with 210 mm probe arm), PC + software in price.
| Año de fabricación: | 2017 |
| 500 | |
| 580 | |
| 500 | |
| Sistema de control | No |
| Año de fabricación: | 2006 |
| 5500 | |
| 2000 | |
| 2500 | |
| Sistema de control | No |
| Año de fabricación: | 2024 |
| 580 | |
| 200 | |
| 300 | |
| 500 | |
| 50 | |
| 782x990x844 | |
| 52 | |
| Sistema de control | No |
| Año de fabricación: | 0 |
| 340 × 130 × 230 | |
| 4 | |
| Sistema de control | No |
| Año de fabricación: | 2007 |
| 1000 | |
| 650 | |
| 400 | |
| Sistema de control | No |