Course X | 140 mm |
Sujet au changement de paramètres techniques.
Contour measuring station, with 140 mm measuring path. Resolution: max. 6 nm (with 210 mm probe arm), PC + software in price.
Année de production: | 0 |
Course X | 500 mm |
700 | |
400 | |
Système de contrôle | NON |
Année de production: | 2006 |
Course X | 5500 mm |
2000 | |
2500 | |
Système de contrôle | NON |
Année de production: | 2018 |
Course X | 900 mm |
1000 | |
600 | |
Système de contrôle | NON |
Année de production: | 2007 |
Course X | 1000 mm |
650 | |
400 | |
Système de contrôle | NON |
Année de production: | 2021 |
Course X | 1200 mm |
2400 | |
800 | |
Système de contrôle | NON |